JJ X-Ray 金剛石(shi)單(dan)晶復合折(zhe)射透鏡(jing) SINGLE CRYSTAL DIAMOND CRL使(shi)用(yong)短脈沖激光雕(diao)刻(ke)鏡(jing)片形(xing)狀，隨后通過各種濕法蝕刻(ke)和(he)(he)干法蝕刻(ke)改善表面粗糙(cao)度。干法蝕刻(ke)也(ye)(ye)可用(yong)于金剛石(shi)中(zhong)雙透鏡(jing)的腹(fu)板。透鏡(jing)的形(xing)狀可以相對自由地制(zhi)作，從而適應特(te)定光束線的參數；他們將被部署。也(ye)(ye)可以在一顆金剛石(shi)中(zhong)制(zhi)造更多(duo)的透鏡(jing)，例如,2D和(he)(he)1D透鏡(jing)可以彼此相鄰放置(zhi)。這意味著(zhu)兩種聚焦類型都可以在一個CRL系統中(zhong)使(shi)用(yong)，并且只需(xu)轉換整個系統即可在兩者(zhe)之間進行選擇。

雖然金剛(gang)石確實比Be吸收率更高，但它們在高能量下(xia)具(ju)有相對較高的折射率，從而產生(sheng)總體(ti)上(shang)更高的可用(yong)光子(zi)通量。

SCD 透鏡可(ke)以封裝在銅盤(pan)(pan)中。Cu盤(pan)(pan)提(ti)供低(di)電阻熱路徑(jing)，非常適合白光束應用。

SCD透鏡(jing)應用

目前的第二(er)代(dai)、GII、SCD透鏡已在APS的1BM光(guang)束(shu)線上進(jin)行了(le)表征(zheng)，其中(zhong)發現(xian)由(you)(you)七個雙SCD透鏡組成(cheng)的CRL可將8keV光(guang)束(shu)聚焦到(dao)理論光(guang)束(shu)尺寸的2.1 倍(bei)。單(dan)個SCD透鏡通過Talbot干涉測量法進(jin)行表征(zheng)，發現(xian)其殘留標準高度偏差低于3μm。高度誤差通常是由(you)(you)我們希望在 GIII 鏡頭中(zhong)消除的系統誤差引起的，我們現(xian)在正(zheng)在努(nu)力(li)。

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