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X 射線發射譜(pu)（X-ray Emission Spectroscopy, XES）是一種通過分(fen)析材料中(zhong)X 射線發射過程中(zhong)能量分(fen)布，深入研究(jiu)物質(zhi)電子結(jie)構和(he)化學(xue)(xue)狀(zhuang)態(tai)的(de)技術。由(you)于(yu)(yu)具有高靈敏(min)度和(he)元素選擇性，XES廣泛應(ying)用于(yu)(yu)材料科學(xue)(xue)、化學(xue)(xue)及物理學(xue)(xue)等領域(yu)。在XES實(shi)驗(yan)中(zhong)，常用的(de)光(guang)譜(pu)儀類型(xing)(xing)包(bao)括von Hamos型(xing)(xing)和(he)Johann型(xing)(xing)，分(fen)別(bie)適用于(yu)(yu)不(bu)同實(shi)驗(yan)需求。

von Hamos 譜儀采用柱面晶體將X射線聚焦(jiao)到探測器(qi)上，由于(yu)(yu)僅在一個維度聚焦(jiao)，非常適合(he)二(er)維探測器(qi)的使用，能(neng)夠在較短的距離內實(shi)現(xian)高(gao)分(fen)(fen)辨率成(cheng)像，具備較高(gao)的分(fen)(fen)辨率和靈活性。通(tong)常用于(yu)(yu)需要高(gao)分(fen)(fen)辨率和緊湊幾何設計的實(shi)驗，尤其(qi)在配合(he)二(er)維探測器(qi)的情況下的表現(xian)。

Johann 譜儀(yi)則通過(guo)圓弧形晶體和幾何布局，在兩個(ge)維度上對X射線進行聚焦，能夠實現更大(da)的(de)收集角(jiao)和更高(gao)的(de)探(tan)測效率(lv)，適合需要(yao)大(da)收集角(jiao)和高(gao)探(tan)測效率(lv)的(de)實驗，尤(you)其在大(da)面(mian)積探(tan)測中(zhong)的(de)表現。

上(shang)述兩種(zhong)譜儀各有優(you)勢(shi)，實驗(yan)人(ren)員可(ke)根據實驗(yan)需求(qiu)選(xuan)擇合(he)適的(de)(de)類型，或者(zhe)將兩者(zhe)結合(he)使用，提升XES測(ce)量的(de)(de)精(jing)度和效(xiao)率。JJ X-Ray可(ke)提供von Hamos譜儀、Johann譜儀及其組合(he)的(de)(de)定制化(hua)設計。

von Hamos譜儀：JJ X-Ray提(ti)供常規的4×4晶(jing)(jing)(jing)體陣列設(she)(she)計，并(bing)可(ke)根據客戶(hu)需求靈活調整晶(jing)(jing)(jing)體數(shu)量和排列方式。此外，還可(ke)提(ti)供兼容真空(kong)或惰性氣氛的設(she)(she)計。每(mei)塊晶(jing)(jing)(jing)體由三(san)個獨(du)立(li)驅動(dong)器(qi)調節俯仰角，晶(jing)(jing)(jing)體可(ke)根據需要(yao)快速更換。下表(biao)為常規設(she)(she)計譜儀的部分(fen)參數(shu)。

Johann譜儀：JJ X-Ray可(ke)(ke)提(ti)供1-7個晶(jing)體臺的(de)常規配置，并(bing)可(ke)(ke)根據客戶(hu)需求(qiu)提(ti)供具有(you)更多晶(jing)體臺的(de)設計方(fang)案。每個晶(jing)體具有(you)4軸自由度，可(ke)(ke)根據實驗需求(qiu)進行水平(ping)和豎直(zhi)方(fang)向(xiang)的(de)平(ping)移，以及(ji)方(fang)位角和俯仰角的(de)調整。

JJ X-Ray還可(ke)提供von Hamos譜儀(yi)與Johann譜儀(yi)結合的實(shi)驗站設計，滿足多樣化的實(shi)驗需求(qiu)，并可(ke)根據客(ke)戶需求(qiu)設計定制多軸樣品(pin)調節臺。

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